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光纤在线编辑部  2023-08-04 17:38:16  文章来源:本站消息  九游会官网登录入口网页的版权所有,未经许可严禁转载.

导读:光纤微裂纹诊断仪(oli)对硅光芯片耦合质量检测非常有优势。

8/04/2023,光纤在线讯,硅光是以光子和电子为信息载体的硅基电子大规模集成技术。光纤到硅基耦合是芯片设计十分重要的一环,耦合质量决定着集成硅光芯片上光信号和外部信号互联质量,耦合过程中最困难的地方在于两者光模式尺寸不匹配,硅光芯片中光模式约为几百纳米,而光纤中则为几个微米,几何尺寸上巨大差异造成模场的严重失配。

     光纤微裂纹诊断仪(oli)对硅光芯片耦合质量检测非常有优势,以亚毫米级别的空间分辨率精准探测到光链路中每个事件节点,具有灵敏度高、定位精准、稳定性高、简单易用等特点,是硅光芯片检测的不二选择。

1、光纤微裂纹检测仪(oli)测试硅光芯片耦合连接处质量

     使用oli测量硅光芯片耦合连接处质量,分别测试正常和异常样品,图1为硅光芯片耦合连接处实物图。



图1 硅光芯片耦合连接处实物图

  
     oli测试结果如图2所示。图2(a)为耦合正常样品,图2(b)为耦合异常样品,从图中可以看出第一个峰值为光纤到硅基波导耦合处反射,第二个峰值为硅基波导到空气处反射,对比两幅图可以看出耦合正常的回损约为-61db,耦合异常,耦合处回损较大,约为-42db,可以通过耦合处回损值来判断耦合质量。


(a)耦合正常样品



(b)耦合异常样品
图2 oli测试耦合连接处结果


2、结论

     使用oli测试能快速评估出硅光芯片耦合质量,并精准定位硅光芯片内部裂纹位置及回损信息。oli以亚毫米级别分辨率探测硅光芯片内部,可广泛用于光器件、光模块损伤检测以及产品批量出货合格判定。

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目前,昊衡科技已推出多款高精度高分辨率产品,主要应用于光学链路诊断、光学多参数测量、高精度分布式光纤温度和应变传感测试。已与全球多个国家和地区企业建立良好的合作关系,并取得诸多成果。

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